第2回研究会開催日変更のお知らせ

2016-08-17
第2回高信頼メモリの配線技術調査研究委員会開催日を変更いたします。
8月26日(金)を8月29日(月)に変更いたします。
直前の変更となり、お詫び申し上げます。
開催場所、時間は変更ございません。
以下案内です。
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8月29日(月)16:30より 第2回高信頼メモリの配線技術調査研究委員会を開催
いたします。ご講演者は、電気通信大学 i-パワードエネルギー・システム研究センター
横川慎二准教授です。 
ご講演タイトル:LSI配線の信頼性試験と品質保証について ー耐湿性を中心としてー
ご講演概要:LSI配線における主要な故障メカニズムを前提として、長期信頼性を保証する
ために実施されている信頼性試験と、その背景となる故障 物理モデルについて紹介する。 
とくに、Cu/Low-k配線において湿度 ストレスが及ぼす影響と、ボンディングPadにおいて 
発生する腐食 の予測モデルについて議論する。
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