メッセージ

現在、社会活動の全てが電子情報技術に依存する時代になり、生成される電子情報が指数関数的に増大している。その一方で電子情報を長期に渡ってコストを掛けずに安定に保存し、かつその意味を理解できることを保障するメモリ・システムは存在しない。そのため、100年を超える時間で考えると、多くの情報、アーカイブが消失の危機にさらされている。

この課題の解決には、超長期に電子情報を保存し、かつ何時でも保存されている電子情報の意味を理解できることを保障する電子媒体とシステムを開発する必要がある。すなわち、記憶を超長期に渡って安定に保存できる記憶媒体の開発と、将来のどの時点においても媒体に格納されている情報を人間に理解できる形に復元できるシステムの構築が必要である。

情報を安定に保存できる記憶媒体に望まれる要件は、保存以外に、将来の何時でも容易に、かつ安価にその記憶媒体から情報を読み出す仕組みが手に入ることである。そのためには、記憶媒体の物理インターフェースが単純なことが望まれる。

これらの要件を満足する可能性のある記憶媒体候補として、半導体不揮発性メモリチップがある。半導体メモリデバイスは耐熱性が高く、化学的にも安定な物質から構成されており記憶保持の原理も100年以上の記憶保持を可能とするものである。また、チップの物理インターフェースは電気接点であり、最も単純な物理インターフェースである。

半導体不揮発性メモリチップの超長期記憶媒体として最も大きな課題は、配線と外部との接点であるパッドの信頼性である。

本調査研究委員会は、超長期間高い信頼性を確保できる配線技術の実現を目指し、配線の長期間の高信頼性に資する技術、信頼性評価手法について調査を行い、技術、評価手法の実現へ向けての指針、ロードマップの作成を目指す。

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